WI-5000 系列干涉式同軸3D位移測(cè)量?jī)x最快僅需 0.13 秒，即可捕捉到最大尺寸為 10×10 mm的目標(biāo)區(qū)域的三維圖像。該傳感器能同時(shí)記錄目標(biāo)表面 80,000 個(gè)高度數(shù)據(jù)點(diǎn)，擁有超大檢測(cè)范圍（最大可達(dá) 10 × 10 mm），可瞬間測(cè)量面粗糙度（Sa、Sz）和線粗糙度（Ra、Rz），并在線識(shí)別是否為良品。WI-5000 系列應(yīng)用白光干涉技術(shù)，能夠有效應(yīng)對(duì)鏡面、透明與深色材料表面的測(cè)量挑戰(zhàn)，顯著提升復(fù)雜材質(zhì)下的測(cè)量效率。該傳感器由于采用同軸測(cè)量，可有效減少溝槽及其他高度急劇變化的形狀中無(wú)法進(jìn)行精準(zhǔn)測(cè)量的盲區(qū)。為了用于離線檢測(cè)，備有可固定測(cè)量頭的專(zhuān)用底座,只要使用位置補(bǔ)正功能，即可無(wú)需繁瑣的定位，實(shí)現(xiàn)僅需放置就能完成的檢測(cè)。

針對(duì)最大 10 × 10 mm 的測(cè)量區(qū)域，可瞬間獲取 8 萬(wàn)個(gè)點(diǎn)的高度。 由于采用白光干涉原理，不受材質(zhì)/顏色、死角的影響，實(shí)現(xiàn)了微米級(jí)的高精度測(cè)量。

測(cè)量多點(diǎn)時(shí)，需要高精度且高速掃描目標(biāo)物。 因此，會(huì)將時(shí)間浪費(fèi)在移動(dòng)載物臺(tái)上，不易進(jìn)行全數(shù)檢測(cè)。 由于 WI-5000 系列是以面進(jìn)行同時(shí)測(cè)量，因此可大幅縮短測(cè)量時(shí)間，實(shí)現(xiàn)全數(shù)檢測(cè)。

為了用于離線檢測(cè)，備有可固定傳感器頭的專(zhuān)用底座。 配備可削減檢測(cè)工時(shí)的各種實(shí)用功能。 改善從簡(jiǎn)易測(cè)量到保存數(shù)據(jù)等各種情況的可操作性。