適用于各種目標物的測量能力
最大掃描區(qū)域50 mm見方。凹凸不平或手掌大小的物體也能整體掃描。只需一臺設(shè)備,即可同時掌握整體形狀和局部形狀。
VK-X3000 系列
采用了三重掃描方式,運用激光共聚焦、白光干涉、聚焦變化等三種不同的掃描原理,高倍率和低倍率,平面、凹凸表面的細微粗糙度,以及鏡面體,透明體等。VK擁有應(yīng)對多種樣品的測量能力(從 1 nm 到 50 mm),納米/微米/毫米一臺完成測量。
即使是納米級的微小形狀變化也能準確測量。此外,如鏡面體、透明體等測量難度高的材料也能實現(xiàn)高速、高精度、大范圍的測量。